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LB-8500L半导体mimi推拉力测试机
我司产品型号：LB-8500L采用全自动化设计模式，大面积推拉力测试机可进行微电子引线键合后引线焊接强度测试、焊点与基板表面粘接力测试、焊球重复性推力疲劳测试（内引线拉力测试、微焊点推力测试、金球推力测试、芯片剪切力测试、SMT焊接元器件推力测试、BGA矩阵整体推力测试）。多功能推拉力测试机广泛用于LED封装测试，IC半导体封装测试、TO封装测试，IGBT功率模块封装测试，光电子元器件封装测试，汽车领域，航天航空领域，军工产品测试，研究机构的测试及各类院校的测试研究等应用。
大面积推拉力测试机特点：
产品优势：
1.采用测试工位自动模式，在软件选择测试工位后，系统自动到达对应工作位。
2.三个工作传感器，采用独立采集系统，保证测试精度。
3.每项传感器采用独立防碰撞及过力保护系统。
4.每项测试工位采用独立安全限位及限速功能。
5.人性化的操作界面，人员操作方便。
6.高精度传感系统结合独特力学算法，确保测试的精度。
产品特点：
1.采用精密动态传感采集技术，确保测试数据精度的真实性。
2.采用进口传动部件，确保机台运行稳定性及测试精度。
3.三工位自动旋转切换，避免因人员误操作带来的设备损坏。
4.霍尔双摇杆四向操作，让操作简单、方便。
5.完美匹配工厂MES系统。
6.测试数据实时保存与导出，方便快捷。
大面积推拉力测试机测试参数：
设备型号：LB-8500L
外型尺寸：1500*1200*1600
设备重量：约850KG
电源供应：110V/220V@4.0A 50/60HZ
压缩空气：4.5-6Bar
真空输出：500mm Hg
控制电脑：联想PC
软件运行：Windows7/Windows10
显微镜：三目影像显微镜
传感器更换方式：自动切换或手动更换测试模块
平台治具：平台共用多种测试治具，按客户样品量身设计匹配治具
XY轴有效行程：X轴有效行程500mm，Y轴有效行程300mm，可按客户产品订制具体尺寸
Z轴有效行程：80mm
XY轴分辩率：±1um Z轴分辩率±1um
传感器精度：传感器精度±0.003％；综合测试精度±0.25％
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