【概要描述】       为了解决当前半导体推拉力测试机导致设备或印刷电路板报废从而导致成本增加的技术问题，技术人员研发提供了一种半导体推拉力测试机。该半导体推拉力测试机包括顶针套，顶针套的一端设有与内部连通的开口，顶针套内部中空；弹性组件设置在顶针套内；测试顶针具有位于顶针套内且可抵靠弹性部的第(一)端，以及与第(一)端相对设置并延伸出顶针套的第(二)端，测试顶针可移动地设置在顶针套内，并可沿顶针套的轴向往复运动；半导体推拉力测试机测试顶针的第(一)端挤压压缩弹性元件当测试顶针的第(二)端推动被测器件时，测试顶针部分或全部缩入顶针套内，使测试顶对被测器件的推力等于被测器件的标准焊接保持力，从而实现被测器件的推力测试。技术人员还提供了一种推力测试方法，该方法使用第(一)方面提供的任何推拉力测试机来测试被测器件的推力，该方法包括：将半导体推拉力测试机的测试套管端沿着被测器件的侧面抵靠在被测器件上，并将被测器件焊接到印刷电路板上；沿测试顶针的轴向推动推拉力测试机，使半导体推拉力测试机的测试顶对被测装置的推力等于被测装置的标准焊接保持力；如果被测器件没有从印刷电路板上脱落，则被测器件的推力测试合格；如果被测器件从印刷电路板上脱落，则被测器件的推力测试失败。



       从上面可以看出，上述半导体推拉力测试机及推力测试方法包括：套管，套管内部为中空，套管的一端设有与内部连通的开口；弹性组件设置在顶针套内；测试顶针可沿顶针套的轴向往复运动，并可移动地设置在顶针套内，测试顶针具有位于顶针套内且可抵靠弹性组件的第(一)端，以及相对设置并延伸出顶针套的第(二)端。测试顶针的第(一)端挤压压缩弹性元件当测试顶针的第(二)端推动被测装置时，使测试顶针的第(二)端部分或全部缩入顶针套内，从而实现被测装置的推力测试。推拉力测试机用于测试装置的推力。当测试顶针推动被测器件时，测试顶针的另一端压住弹性元件，弹性元件的弹性与测试头对被测器件的推力相同。当弹性元件的弹性达到被测装置的推力标准时，可以判断被测装置的推力合格，从而避免被测装置报废，节约检测成本。

• 发布时间：2022-06-22 16:32